2 DESIGN FOR TESTABILITY（DFT）
这一章讨论现代数字电路的可测性设计（DFT）。
可测性设计的两大用途：
- 提高数字电路质量，减少数字电路测试成本
- 简化电路测试、debug、诊断
本章目标：
- 读完能够判断一个电路的设计是不是测试友好
- 为了提高可测性，能提出设计上的修改建议
综合以上目标，这一章结束后，能够识别和修改scan design rule的偏差，能够掌握把一个design转换成一个scan design的基础知识。
内容顺序：
- DFT的基础概念和可测性分析的方法
- scan design（应用最广泛的DFT方法学）
- popular scan cell designs
- scan architectures
- scan design rules
- scan design flow
- special-purpose scan designs
- 先进的DFT技术：RTL级的DFT，可以减少DFT设计迭代和test development time。
2.1 Introduction
parts per million (PPM)：测试技术的早期，设计和测试完全是分开的两部分，测试的质量按照客户返回的故障芯片的比例评估，也就是用这个数给测试打分。
fault simulation或fault grading：1980s，测试中严重依赖故障仿真定量测量functional patterns的故障覆盖率。如果一组functional patterns不能满足故障覆盖率要求，就再增加functional patterns，但是这种方法的故障覆盖率始终超不过80%。
scan cells：对于存储单元storage elements，利用结构化的DFT方法用外部接口控制和监测时序电路内部的状态，这种利用外部接口重构的存储单元叫做scan cells。
Scan design：最常用的DFT方法。把选中的存储单元storage elements连接起来形成多个移位寄存器，叫做scan chains。这种设计方法把每一个选中的存储单元都用一个scan cell替代，每个单元都有一个额外的输入scan input (SI)，还有一个额外的或者共享的输出scan output (SO)，通过把SO连到下一个cell的SI，就能形成一个或多个scan chains。
full-scan design：把所有的存储单元都进行scan插入。
almost full scan design（more than 98%）：把几乎所有的存储单元都进行scan插入。
partial-scan design：把部分的存储单元都进行scan插入。按照选择方法又分成三小类：
- pipelined
- feed-forward
- balanced
随着硅降价和深硅技术发展，逐渐由partial-scan design向full-scan design发展。
scan design rules：为了达到想要的PPM目标，在设计中，影响故障覆盖率的特定电路结构和设计都得提前就要求并做到，这就需要提前规定scan design rules。所以DFT工程师的职责包括：
- 在设计中，识别和修订scan design rule偏差
- 把scan chains插入和综合入设计中
- 为scan design生成测试向量
- 将测试向量转化为ATE能用的格式
