关于你的问题，答案是：是的，VOH 应在 VDD 最大时测，VOL 应在 VDD 最小时测，这是标准的工程做法。其根本原因是为了验证芯片输出驱动能力在最差情况下的表现。
📌 VOH/VOL 测试的电压条件
VOH 在 VDD max 下测试：VOH 是输出高电平的最小保证值。当电源电压 VDD 最高时，输出晶体管的上拉能力最强，但此时输出高电平也最高，最容易超出下游器件对高电平的接收上限。因此，在 VDD max 条件下测试 VOH，是为了确保在最不利的情况下，输出高电平仍能满足要求。
VOL 在 VDD min 下测试：VOL 是输出低电平的最大允许值。当电源电压 VDD 最低时，输出晶体管的下拉能力最弱，此时输出低电平也最高，最容易超出下游器件对低电平的接收上限。因此，在 VDD min 条件下测试 VOL，是为了确保在最不利的情况下，输出低电平仍能被正确识别。
许多芯片数据手册也明确要求在电源电压范围的两端进行测试，例如在 VDD=4.5V (min) 和 5.5V (max) 时分别验证 VOL 和 VOH。
⚠️ 注意事项
- 电源顺序：改变 VDD 电压时，如果 VDDK 等核心电压有上电顺序要求，需确保电压变化的时序正确。
- 测试限值：在 VDD max/min 条件下，VOH/VOL 的测量限值（
limit_spec_min/max）可能需要相应调整，因为它们会随 VDD 变化。 - 电流能力：确保 MLDPS 的电流量程（如
@500mA）足以支持芯片在拉偏电压下的工作电流。 - 多电源域：如果芯片有多个 IO 电源域（如 VDD33、VDD18），需要分别对它们进行拉偏测试。
💎 总结
| 测试项 | 推荐 VDD 条件 | 原因 |
|---|---|---|
| VOH | VDD max | 验证输出高电平在最不利情况下仍能满足要求 |
| VOL | VDD min | 验证输出低电平在最不利情况下仍能满足要求 |
通过在VOH_TEST()和VOL_TEST()函数中分别使用VDD33_MAX和VDD33_MIN调用FORCE_V_MLDPS，即可在 Chroma 测试程序中实现电压拉偏测试。
- 如果拉偏每次都测试VOH/VOL且覆盖到Vmax和Vmin，也可以直接VOH/VOL都跟着拉偏电压走，limit设置不一样就行。
