半导体晶圆图谱缺陷检测数据集VOC+YOLO格式11720张8类别

数据集格式：Pascal VOC格式+YOLO格式(不包含分割路径的txt文件，仅仅包含jpg图片以及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件)

图片数量(jpg文件个数)：11720

标注数量(xml文件个数)：11720

标注数量(txt文件个数)：11720

标注类别数：8

标注类别名称(注意yolo格式类别顺序不和这个对应，而以labels文件夹classes.txt为准):["Center","Donut","Edge-Loc","Edge-Ring","Loc","Near-full","Random","Scratch"]

每个类别标注的框数：

Center 框数 = 2147

Donut 框数 = 555

Edge-Loc 框数 = 4050

Edge-Ring 框数 = 2421

Loc 框数 = 2400

Near-full 框数 = 149

Random 框数 = 866

Scratch 框数 = 1673

总框数：14261

使用标注工具：labelImg

标注规则：对类别进行画矩形框

重要说明：暂无

特别声明：本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证，数据集只提供准确且合理标注

图片预览：

标注例子：

数据集地址：https://download.csdn.net/download/FL1623863129/88610659