STDF-Viewer完全使用教程：半导体测试数据可视化分析
【免费下载链接】STDF-ViewerA free GUI tool to visualize STDF (semiconductor Standard Test Data Format) data files.项目地址: https://gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer
STDF-Viewer是一款专业的半导体测试数据可视化分析工具，能够高效处理STDF格式的测试数据文件。本教程将详细介绍如何使用该工具进行半导体测试数据的全面分析。
快速开始：数据导入与基础操作
数据导入方式
STDF-Viewer提供三种便捷的数据导入方式：
- 通过文件对话框选择单个或多个STDF文件
- 直接将文件拖拽到界面进行加载
- 在文件管理器中右键点击STDF文件快速打开
在主界面中，您可以：
- 查看左侧的测试项目列表，红色标记表示失败项
- 浏览中间的文件信息和测试统计数据
- 使用顶部功能按钮进行文件操作
智能失效识别
点击工具栏的"标记失效"按钮，系统会自动扫描所有测项并标记问题。失效的测试项会以醒目的红色显示，同时系统会统计失败项数量。
核心分析功能详解
DUT详情分析
在"STDF信息 → DUT详情"模块中，您可以查看每个设备单元的详细信息：
- Part ID和测试头信息
- 执行时间和Bin分类
- 晶圆ID和坐标位置
- DUT状态标记（通过/失败/被顶替）
趋势图分析
趋势图功能展示测试值随DUT序号的变化趋势，支持多文件对比分析：
- 红色散点表示超出阈值的失败数据
- 鼠标悬停可查看具体数值和DUT索引
- 底部统计表格提供关键质量指标
数据分布分析
直方图功能按不同测试站点展示数据分布情况：
- 横轴显示DUT索引，纵轴显示测试值
- 红色水平线表示上限，蓝色表示下限
- 不同颜色区分各站点数据分布
高级分析功能
Bin分布统计
系统自动生成硬件Bin和软件Bin的分布报告：
- 柱状图展示不同Bin的分布情况
- 统计表格列出良率和失败数等关键指标
- 自动隐藏空Bin保持界面简洁
晶圆图分析
当STDF文件包含晶圆测试信息时，晶圆图功能自动启用：
- 堆叠晶圆图汇总所有晶圆图的失效分布
- 每个坐标点显示该位置失效DUT的总数
- 颜色编码直观展示失效热点区域
报告生成与导出
自定义报告内容
STDF-Viewer提供完整的报告导出功能：
- 选择需要包含的报告模块
- 设置导出路径和格式
- 一键生成专业分析报告
可导出的报告内容包括：
- 文件属性和记录详情
- DUT测试数据汇总
- 趋势图表和统计指标
- 数据分布和直方图分析
- 质量统计和良率报告
- 晶圆分析完整数据
实用操作技巧
批量处理技巧
- 同时打开多个STDF文件进行对比分析
- 使用右键菜单快速操作选中的测试项
- 通过快捷键提高操作效率
数据分析最佳实践
- 先进行整体数据概览，了解批次基本情况
- 使用失效标记功能快速定位问题测项
- 深入分析DUT详情，排查具体失效原因
- 结合趋势图和直方图，分析数据分布特征
- 生成完整分析报告，记录分析结果
性能优化建议
处理大型文件
- 对于包含数万个DUT的大型STDF文件，建议分批次分析
- 使用筛选功能重点关注失效和低Cpk测项
- 合理配置内存使用，确保分析过程流畅
通过本教程的学习，您应该已经掌握了STDF-Viewer的基本操作和核心功能。该工具通过强大的可视化功能和高效的数据处理能力，能够显著提升半导体测试数据分析的效率和质量。
【免费下载链接】STDF-ViewerA free GUI tool to visualize STDF (semiconductor Standard Test Data Format) data files.项目地址: https://gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer
创作声明：本文部分内容由AI辅助生成（AIGC），仅供参考
