news 2026/9/6 18:52:25

Kioxia研发核心技术,助力高密度低功耗3D DRAM的实际应用

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张小明

前端开发工程师

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Kioxia研发核心技术,助力高密度低功耗3D DRAM的实际应用

展示高堆叠性氧化物半导体沟道晶体管技术

全球存储解决方案领域的领军企业Kioxia Corporation今日宣布,已研发出具备高堆叠性的氧化物半导体沟道晶体管技术,该技术将推动高密度、低功耗3D DRAM的实际应用。这项技术已于12月10日在美国旧金山举行的IEEE国际电子器件大会(IEDM)上亮相,有望降低AI服务器和物联网组件等众多应用场景的功耗。

在AI时代,市场对于具备更大容量、更低功耗、可处理海量数据的DRAM的需求持续攀升。传统DRAM技术在存储单元尺寸微缩方面已逼近物理极限,业界因此开始研究存储单元的3D堆叠技术,以此拓展存储容量。传统DRAM采用单晶硅作为堆叠存储单元中晶体管的沟道材料,这种方式会推高制造成本,同时存储单元的刷新功耗还会随存储容量的增加而成正比上升。

在去年的IEDM上,我们宣布研发出氧化物半导体沟道晶体管DRAM (OCTRAM)技术,该技术使用由氧化物半导体材料制成的垂直晶体管。在今年的大会展示中,我们推出了可实现OCTRAM 3D堆叠的高堆叠性氧化物半导体沟道晶体管技术,并完成了8层晶体管堆叠结构的功能验证。

这项新技术将成熟的氧化硅和氮化硅薄膜堆叠起来,通过将氮化硅区域替换为氧化物半导体(InGaZnO),同步形成横向堆叠晶体管的垂直分层结构。我们还推出了一种可实现垂直间距微缩的新型3D存储单元结构。这些制造工艺和结构设计有望攻克存储单元3D堆叠面临的成本难题。

此外,得益于氧化物半导体材料的低关态电流特性,该技术还有望降低存储单元的刷新功耗。通过上述替换工艺制作的横向晶体管,已被验证具备高导通电流(超过30微安)和超低关态电流(低于1阿托安,即10^-18安)的性能表现。不仅如此,Kioxia Corporation还成功制备了8层横向晶体管堆叠结构,并确认该结构内的晶体管均可正常工作。

Kioxia Corporation将持续推进这项技术的研发工作,以实现3D DRAM在实际应用中的部署。

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关于Kioxia

Kioxia是全球存储解决方案领域的领军企业,致力于闪存和固态硬盘(SSD)的开发、生产和销售。其前身Toshiba Memory于2017年4月从1987年发明NAND闪存的公司Toshiba Corporation分拆而出。Kioxia致力于通过提供产品、服务和系统来为客户创造选择,并为社会创造基于存储技术的价值,从而提升世界的“记忆”。Kioxia创新的3D闪存技术BiCS FLASH™正在塑造存储技术在高密度应用领域(包括高级智能手机、PC、汽车系统、数据中心和生成式AI系统)的未来。

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