日置IM3536是一款高频LCR测试仪,支持DC至8MHz宽频测量,具备±0.05%精度和1ms高速测试特性,广泛应用于电子元件研发与产线检测。 日置IM3536核心参数 测量范围:DC、4Hz至8MHz,覆盖主流电子元件测试频段。 1 2 精度与速度:±0.05%基本精度,最快1ms单次测量。 1 2 低阻测量:1mΩ以上精度保证,支持DC偏压模拟工况测试。 1 2 数据存储:内置32000组数据存储,支持USB导出分析。 3 日置IM3536应用场景 电容器评估:依据JIS标准测量电解电容/陶瓷电容随频率/电压变化的容值特性。 1 2 电源电感测试:8MHz高频特性适配下一代电源元器件开发。 3 4 产线兼容性:标配治具需额外选配,支持快速切换测试条件适配产线需求
日置IM3536 IM3570阻抗分析仪
张小明
前端开发工程师
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